不朽情缘

离子迁移测试系统

上海欣崇电子科技有限公司

Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD

专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商

全国服务热线: 021-3126 6656

您的位置: 主页 > 项目案例 > 半导体材料、元器件

咨询热线

021-3126 6656

半导体材料、元器件

高温高湿偏置试验方案(H3TRB测试)

高温高湿偏置试验方案(H3TRB测试)

高温高湿反偏试验 简称H3TRB,英文名称High Temperature and High Humidity Reverse Bias。在高温高湿条件下,将栅极与发射极短接,在集电极与发射极间加上设定的直流电压,同时检测直流电压与漏...
连接件温升测试系统方案介绍

连接件温升测试系统方案介绍

连接件温升测试系统方案 测试目的:连接件的耐温寿命试验。 测试方法:对连接件加载恒定的电流值,测量其连接件的温度变化。 测试需求: 电源、数据采集器开机自检; 程控电源...
电阻元器件的快速测试解决方案

电阻元器件的快速测试解决方案

电阻元器件的快速测试解决方案 测试目的:批量测试其被测元器件在特定的环境下测试阻值特性。 测试要求:提供恒定的温度试验环境,满足易操作的连接方法,同时具备其快速测量...
高温栅偏试验(HTGB测试)

高温栅偏试验(HTGB测试)

高温栅偏试验 简称HTGB,英文名称High Temperature Gate Bias。在高温条件下,将栅极与发射极短接,在集电极与发射极间加上设定的直流电压,验证栅极漏电流的稳定性。 □试验对象 各种封...
电子浆料的电阻温度系数测试解决方案

电子浆料的电阻温度系数测试解决方案

项目介绍: 本电阻测试系统是由一台高低温试验箱和一台电阻测试系统组成,测试夹具安装在高低温试验箱中,电阻测试系统通过测试线束与测试夹具连接 直流电阻的测试原理是先对被...
高温反偏老化试验测试系统方案(HTRB测试)

高温反偏老化试验测试系统方案(HTRB测试)

高温反向偏压试验简称HTRB,英文名称High Temperature Reverse Bias。在高温条件下(100℃以上),持续提供80%规格的反向电压,在长时间(48小时以上)工作下,半导体器件的反向漏电流在规定范围内...
高温高湿偏置试验方案(H3TRB测试)

高温高湿偏置试验方案(H3TRB测试)

高温高湿反偏试验 简称H3TRB,英文名称High Temperature and High Humidity Reverse Bias。在高温高湿条件下,将栅极与发射极短接,在集电极与发射极间加上设定的直流电压,同时检测直流电压与漏...
分立器件的应用测试

分立器件的应用测试

分立器件,细分行业应用主要表现在二极管(整流/开关/限幅/稳压/肖特基/功率等),晶体管(GTR/MOSFET/IGBT),晶闸管(SCR/GTO/LTT),会涉及应用测试、可靠性测试、失效分析、EMC等。
  • 18条记录
Sitemap