高加速温湿度及偏压测试解决方案（b-HAST测试）

目的：评估产品在偏压下高温、高湿、高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。
测试条件：130度，85%RH，偏压
失效机制：电离腐蚀，封闭密封性

  b-HAST方案是由HAST箱配合绝缘电阻测试系统（离子迁移测试系统）完成，是指被测样品在HAST加速老化试验箱内做在线绝缘阻值监测，以判定在高温高湿高压环境下，被测物是否发生离子迁移/CAF现象，从而观察被测物的可靠性是否达到标准。
 HAST加速老化试验箱最多可支持180PIN，当采用正负极独立通道的测试方法时，最多支持90CH；当采用共极测试方法时，最多可支持175CH。通过HAST箱上固定的CAF测试专用转接端子，达到使绝缘电阻测试系统与HAST箱内被测样品直接相连的目的。

绝缘电阻测试系统（离子迁移测试系统）现有300V、500V、1000V三种测试电压和32CH、64CH、96CH、128CH、256CH常规通道数的绝缘电阻测试系统与HAST搭配，可满足绝大部分的测试要求。